MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA SU3800/SU3900 – MEV COM PRESSÃO VARIÁVEL – HITACHI
Desempenho e potência em uma plataforma flexível
Os microscópios eletrônicos de varredura da Hitachi, modelos SU3800 e SU3900, oferecem operacionalidade e expansibilidade. O operador pode automatizar muitas operações e utilizar eficientemente com seu alto desempenho. O SU3900 está equipado com uma câmara de amostra grande multiuso para acomodar a observação de amostras grandes.
Confira mais detalhes destes microscópios, seus principais diferenciais e benefícios e ainda como adquirir o seu!
Recursos SU3800/SU3900
Câmara de amostra acomoda amostras grandes e pesadas
O SU3800 conta com um estágio para amostras de até 200mm de diâmetro, enquanto o SU3900 com sua câmara extra grande consegue acomodar amostras de até 300mm de diâmetro.
Estágio robusto para flexibilidade no tamanho, forma e peso da amostra:
- A sequência de troca de amostras evita possíveis danos ao sistema ou à amostra.
- Troque as amostras sem ventilar a câmara de amostras, melhorando o rendimento.
- Aumente a manipulação de amostras com o modo Stage Free.
- A câmera de visualização de amostra aumenta a segurança dos movimentos do estágio.
Maior área de visualização – SEM MAP expande os limites da navegação de amostra:
- Visor integrado da câmera
- Navegue facilmente por toda a área observável
- Rotação orientada ao detector
O SEM MAP, agora na câmara, oferece navegação de uma câmera grande angular (opcional) na interface gráfica do usuário. Ao especificar a posição de destino da observação no SEM MAP, o operador pode mover o estágio perfeitamente para qualquer posição dentro da área observável e alternar de um amplo campo de visão da imagem colorida para uma imagem MEV de alta ampliação, aumentando e diminuindo o zoom livremente. Qualquer imagem pode ser importada e utilizar esse recurso.
Aumente a manipulação da amostra com a função Cancelamento de restrição de movimento do estágio:
O SU3800/SU3900 pode ser configurado com a função Cancelamento de restrição de movimento do estágio, que aumenta a flexibilidade do movimento. O operador pode mover o estágio com base em seus requisitos de imagem, sem restrições.
Evolução do mercado: funções automáticas aprimoradas para operadores de qualquer nível de habilidade
Vários modos de operação, com funções automáticas para operadores de qualquer nível de habilidade:
- Algoritmos automáticos aprimorados – três vezes mais rápido (em comparação com o Hitachi Modelo S-3700N);
- Função aprimorada de foco automático;
- Recursos de tecnologia de filamentos inteligentes (IFT).
Após a conclusão da configuração da amostra, vários ajustes de imagem (AFS / ABCC / AFC / ASC) são automatizados, além da função de foco automático, para que imagens de amostra possam ser adquiridas imediatamente após o início da observação.
Funções automatizadas:
- AFS = Saturação do Filamento;
- ABCC = Correção de Contraste e Brilho;
- AFC = Correção de Foco;
- ASC = Correção do Astigmatismo.
Graças às funções automáticas de alta velocidade baseadas em novos algoritmos de design, o tempo para executar as funções de ajuste automático de imagem é 3 vezes menor em comparação ao modelo anterior. A aquisição de dados de alta qualidade está mais rápida do que nunca!
O Multi Zig Zag permite a junção de imagens de consecutivas áreas varridas em uma única imagem com amplo campo de visão, e em diversos pontos da amostra. Aplicativo Report Creator gera relatórios dos dados adquiridos.
Soluções integradas para várias aplicações
Detectores de alta sensibilidade compatíveis com todos os requisitos de observação:
- Observação de Catodo Luminescência usando UVD*;
- BSED segmentado permite visualizar composição e topografia.
Grande quantidade de acessórios montáveis:
Uma variedade de acessórios montáveis em qualquer uma das 20 portas da câmara de amostras inovadora do SU3900 permite a adição de técnicas de análise complementares.
- Sistema de integração SEM/EDS*: integração de espectro em único software disponível.
- Software de modelagem 3D: Hitachi Map 3D*.
- Software de processamento, medição e análise de imagem: Image-Pro for Hitachi.
*opcionais
Especificações MEVs SU3800/SU3900
Visite a aba ‘Especificações’ indicada acima para conferir mais detalhes de cada microscópio, incluindo mais imagens de instrução.
Mais informações MEVs e Hitachi High-Tech
Visite o site oficial da Hitachi High-Tech (em inglês) para conferir mais informações e ainda encontrar documentação oficial da série de MEVs SU3800/SU3900 .
Tire suas dúvidas e encomende seu MEV SU3800/SU3900 com a dpUNION
Entre em contato no botão logo abaixo!
Confira também o blog da dpUNION e encontre nossos artigos especiais.
| Item | Características do Produto | ||
| SU3800 | SU3900 | ||
| Resolução Elétrons secundários | 3.0 nm (tensão de aceleração: 30 kV, WD＝5 mm, modo alto vácuo) | ||
| 15.0 nm (tensão de aceleração: 1 kV, WD＝5 mm, modo alto vácuo) | |||
| Resolução Elétrons retroespalhados | 4.0 nm (tensão de aceleração: 30 kV, WD＝5 mm, modo baixo vácuo) | ||
| Magnificação | ×5 a ×300,000 (magnificação da imagem*1) | ||
| ×7 a ×800,000 (magnificação do display LCD*2) | |||
| Tensão de aceleração | 0.3 kV a 30 kV | ||
| Configuração do modo de baixo vácuo | 6 a 650 Pa | ||
| Deslocamento de Imagem | ± 50 µm (WD＝10 mm) | ||
| Tamanho Máximo de Amostra | Φ 200 mm | Φ 300 mm | |
| Estágio de Amostra | X | 0 a 100 mm | 0 a 150 mm |
| Y | 0 a 50 mm | 0 a 150 mm | |
| Z | 5 a 65 mm | 5 a 85 mm | |
| R | 360° em modo contínuo | ||
| T | －20 a +90° | ||
| Faixa móvel máxima | Φ 130 mm (in combination with R) | Φ 200 mm (in combination with R) | |
| Altura móvel máxima | 80 mm (WD= 10 mm) | 130 mm (WD= 10 mm) | |
| Motorização | 5-eixos | ||
| Ótica Eletrônica | Canhão de Elétrons | Cartucho Filamento de tungstênio pré-centralizado tipo Hairpin | |
| Abertura de lente objetiva | Abertura móvel de 4 furos | ||
| Detectores | Detector de elétrons secundários, detector de elétrons retroespalhados semicondutor sensível | ||
| WD apara análise EDX | WD＝10 mm (T.O.A＝35°) | ||
| Exibição de imagem | Função de alinhamento de eixo automático | Controle do feixe: auto (AFS→ABA→AFC→ABCC) | |
| Ajuste óptico do eixo: automático (alinhamento de corrente) | |||
| Brilho do feixe: automático | |||
| Função de ajuste automático de imagem | Controle automático de brilho e contraste (ABCC) | ||
| Controle de foco automático (AFC) | |||
| Auto astigmatismo e foco (ASF) | |||
| Auto saturação de filamento (AFS) | |||
| Alinhamento automático de feixe (ABA) | |||
| Início automático (HV-ON → ABCC → AFC) | |||
| Função Auxiliar de Operação | Rotação de varredura, foco dinâmico, função de aprimoramento de imagem, Entrada de dados (medição ponto a ponto, medição de ângulo, textos), ampliação predefinida, função de navegação de posicionamento de estágio (SEM MAP), função de marcação de feixe | ||
| Função opcional | ■ Hardware: Track ball, Joystick, Painel de operação, Compressor, Detector de baixo vácuo ultra-sensível (UVD), câmera interna, sistema de navegação por câmera ■ Software: Gerenciador de dados MEV, Interface de comunicação externa, captura 3D, modo estágio livre, integração EDS | ||
| Opções (para dispositivos externos) | Espectrometria de raios X de energia dispersiva (EDS), Espectrometria de raios X por comprimento de onda (WDS), vários estágios externos (estágio de aquecimento, estágio de resfriamento, estágio de tração) | ||
- Ampliação definida com 127 mm x 95 mm (tamanho da imagem de 4 “x 5”) como tamanho de exibição.
- Ampliação definida com 509,8 mm x 286,7 mm (1.920 x 1.080 pixels) como tamanho de exibição.
Layout Sugerido
Alguma dúvida?
Tem alguma dúvida sobre os produtos e fabricantes? Precisa de um orçamento? Nossa equipe de consultores está à disposição para lhe ajudar. Clique no botão abaixo para receber nosso contato.
